Propuesta metodológica para caracterizar las áreas expuestas a riesgos tecnológicos mediante SIG. Aplicación en la Comunidad de Madrid

Autores/as

  • Joaquín Bosque
  • Concepción Díaz
  • María Ángeles Díaz
  • Montserrat Gómez
  • Diego González
  • Víctor M. Rodríguez
  • María Jesús Salado

Palabras clave:

Riesgo tecnológico, exposición a riesgos, cartografía de riesgos, SIG, Madrid (España), Arc/Info.

Resumen

En la cartografía de riesgos existen dos componentes de carácter espacial: la definición y caracterización de las áreas expuestas, por una parte y, por otra, el análisis de la vulnerabilidad de la población y el territorio. En este artículo, la atención se centra exclusivamente en el primer componente, la exposición. Se plantea un procedimiento sencillo para establecer las zonas potencialmente expuestas a riesgos tecnológicos en el territorio. Se utilizan para ello las funciones de cálculo de distancias de un SIG, lo que permite determinar tres variables: zonas expuestas a algún riesgo, la intensidad de la exposición a riesgos en cada punto y la “probabilidad espacial” de ser afectado por un algún peligro de tipo tecnológico en la Comunidad de Madrid (España).

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Cómo citar

Bosque, J., Díaz, C., Díaz, M. Ángeles, Gómez, M., González, D., Rodríguez, V. M., & Salado, M. J. (2014). Propuesta metodológica para caracterizar las áreas expuestas a riesgos tecnológicos mediante SIG. Aplicación en la Comunidad de Madrid. GeoFocus. Revista Internacional De Ciencia Y Tecnología De La Información Geográfica, (4), 44–78. Recuperado a partir de https://geofocus.org/index.php/geofocus/article/view/42

Número

Núm. 4 (2004)

Sección

Artículos

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